3 視網膜電圖(electroretinogram，ERG)
3.1 適應症
需評估視網膜功能的各種疾病，如遺傳性眼底病如原發性視網膜色素變性、先天性錐體細胞功能不全、先天性黑朦、各種原因的夜盲症、視網膜變性或脫離、視神經萎縮、糖尿病性視網膜病變以及視網膜血循環障礙等疾病。
3.2 用品及準備
(1)測定暗視ERG須進行暗適應(15min以上)。
(2)角膜麻醉用1％地卡因2滴，2min後重復1次，用複方託品酰胺以消除瞳孔括約肌和睫狀肌收縮時電位的影響，並可使瞳孔透光面積一致。
3.3 檢查方法
(1)電極放置，作用電極可採用各型角膜電極或金、銀箔眼瞼電極，放置角膜上，參考電極置前額中部，耳垂電極接地。
(2)導聯連接方式使角膜作用電極爲正時波形向上。放大器帶寬爲0.1-100Hz，靈敏度100μV/cm，記錄時程200ms。刺激方式通常採用全視野閃光，刺激強度取決於光強和瞳孔透光面積。閃光持續時間在10-25ms。
(3)測暗視ERG時刺激重複率要低於1/s，此時記錄包括明視和暗視兩種成分。如欲得到單純的暗視ERG可用藍濾光片或中性密度濾光片(N、D、2.0)並用中等光強刺激；單純的明視ERG可用20Hz以上刺激頻率或視網膜漂白後刺激，閃光ERG一般記錄時不需用疊加方式。
3.4 報告內容
一般只報告a、b波的潛伏期和波幅，振盪電位。潛伏期分別由光刺激開始至a波波谷和b波波峯；a波振幅由基線至a波波谷，b波振幅則由a波波谷算至b波波峯。
3.5 注意事項
(1)檢查完畢後，取下角膜接觸電極，滴0.25％氯黴素眼藥水1-2滴。
(3)全視野ERG只適用於較彌散的累及神經節細胞之前的眼底病；局部性病變常不敏感，需測定局部ERG；對神經節細胞損害可測定圖形ERG(pattern ERG，PERG)。
4 視覺誘發電位(Visual evoked po-tential，VEP)
4.1 適應症
檢測視網膜神經節細胞、視神經及中樞視通道的病變如視神經炎、多發性硬化、腫瘤壓迫以及其他有視神經病變的疾病；圖形VEP可用於客觀測定視敏度。
4.2 方法及內容
(1)受檢者取坐位或斜坡臥位，在屏蔽室內進行。單眼刺激時非檢查眼需用黑色眼罩遮光。
(2)電極放置：作用電極放在枕骨粗隆上2-3cm處(Oz)，在進行雙眼半視野刺激時，還需要在Oz左右(即腦電圖10-20系統的O1、O2位置)放置電極，參考電極置前額部，地線接耳垂。導聯連接使作用電極爲正時波形向上。
(3)刺激方式：分閃光刺激和圖形刺激兩類，閃光刺激與ERG檢查相同，圖形刺激爲大小可變的方格或條狀明暗圖形。
(4)影響反應大小的主要參數和刺激的空間頻率(單位視角方格或條狀光柵的數目、單位：周/度)，刺激的重複率(單位時間圖形變化的次數)以及圖形的明暗對比度。
(5)放大器頻率可選用0.1-200Hz，靈敏度2-5μV，記錄時程200ms，疊加次數64-128次，疊加時須用自動排斥僞跡方式工作。
VEP通常在 200ms過程內有3-5個波，其中有臨牀診斷意義的爲100ms左右的正波()。一般報告左右眼的潛伏期和波幅並互相比較。閃光VEP(flash VEP，FVEP)的潛伏期和波幅在不同個體變化較大，且重複性差，而參數恆定的圖形VEP(pattern VER，PVEP)其波形和潛伏期則相對穩定。PVEP的波幅差也可反映雙眼視銳度的差別。正常人雙眼PVEP的潛伏期可有小的變化，但這種潛伏期變化在視神經炎和脫髓鞘疾病時特別敏感，在視神經炎患者雙眼可明顯延長也可在正常範圍內。正常人絕對值及其範圍各實驗室鬚根據各自儀器和選擇參數測出。
4.3 注意事項
5 眼電圖(electro-oculogram，EOG)
5.1 適應症
脈絡膜循環障礙和視網膜外層病變和視網膜色素變性、葡萄膜疾患、視網膜脫離等。
5.2 方法及內容
1. 檢查前準備和檢查方法，EOG爲記錄在明暗條件下角膜與視網膜間的慢電位變化。
(1)圓盤乏極化電極置於內、外眥部，前額電極接地。
(2)受檢者先在暗室內靜坐15min，然後注視光球內正前方的小紅燈，每隔2min中央小紅燈熄滅，相隔5°視角的左、右側小紅燈交替發光，使作5°視角的眼運動，記錄其EOG波幅。前12min光球不給光在暗中記錄，後18min光球給光(照度5000Lx)，記錄出EOG曲線的暗谷和光峯處的電壓值。
2. 報告內容，包括一般報告暗谷時時間(min)、暗谷電位(mV)、光峯時間(min)、光峯電位(mV)，Q值＝光峯電位/暗谷電位，正常範圍Q＝1.85~3.00。須分別報告左右眼數值。