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X线头影测量分析
X线头影测量(Cephalometrics),主要是测量X线头颅定位照像所得的影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。下唇突点(LL):下唇之最突点。(7)上下中切牙角:上中切牙长轴与下中切牙长轴的交角。
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