1 拼音
2010 nián bǎn yào diǎn yī bù fù lù Ⅴ
《中中華人民共和國藥典》2010年版一部 附錄Ⅴ 分光光度法
分光光度法是通過測定被測物質在特定波長處或一定波長範圍內的吸光度或發光強度，對該物質進行定性和定量分析的方法。常用的波長範圍爲：（1） 200～400nm的紫外光區；（2）400～760nm的可見光區；（3） 760～2500nm的近紅外光區；（4）2.5～25μm（按波數計爲4000～400cm-1）的中紅外光區。所用儀器爲紫外分光光度計、可見分光光度計（或比色計）、紅外分光光度計或原子吸收分光光度計。爲保證測量的精密度和準確度，所用儀器應按照國家計量檢定規程或本附錄規定，定期進行校正檢定。
單色光輻射穿過被測物質溶液時，在一定的濃度範圍內被該物質吸收的量與該物質的濃度和液層的厚度（光路長度）成正比，其關係如下式：
式中A爲吸光度；T爲透光率；E爲吸收係數，採用的表示方法是
，其物理意義爲:當溶液濃度爲1% （g/ml），液層厚度爲1cm時的吸光度數值；
c爲100ml溶液中所含被測物質的重量（按乾燥品或無水物計算），g；
l爲液層厚度，cm。
物質對光的選擇性吸收波長，以及相應的吸收係數是該物質的物理常數。當已知某純物質在一定條件下的吸收係數後，可用同樣條件將該供試品配成溶液，測定其吸光度，即可由上式計算出供試品中該物質的含量。在可見光區，除某些物質對光有吸收外，很多物質本身並沒有吸收，但可在一定條件下加入顯色試劑或經過處理使其顯色後再測定，故又稱比色分析。
2 附錄V A紫外－可見分光光度法
2.1 儀器的校正和檢定
2.1.1 1．波長
由於環境因素對機械部分的影響，儀器的波長經常會略有變動，因此除應定期對所用的儀器進行全面校正檢定外，還應於測定前校正測定波長。常用汞燈中的較強譜線237.83nm, 253.65nm, 275.28nm, 296.73nm, 313.16nm，334.15nm, 365.02nm, 404.66nm, 435.83nm, 546.07nm與576.96nm;或用儀器中氘燈的486.02nm與656.10nm譜線進行校正；鈥玻璃在波長279.4nm，287.5nm，333.7nm，360.9nm,418.5nm,460.0nm,484.5nm,536.2nm與637.5nm處有尖銳吸收峯，也可作波長校正用，但因來源不同或隨着時間的推移會有微小的變化，使用時應注意；近年來，常使用高氯酸鈥溶液校正雙光束儀器，以10%高氯酸溶液爲溶劑，配製含氧化鈥（Ho2O3） 4%的溶液，該溶液的吸收峯波長爲241.13nm, 278.10nm,、287.18nm，333.44nm，345.47nm，361.31nm，416.28nm，451.30nm，485.29nm，536.64nm和640.52nm。
儀器波長的允許誤差爲：紫外光區±1nm，500nm附近±2nm。
2.1.2 2．吸光度的準確度
可用重鉻酸鉀的硫酸溶液檢定。取在120℃乾燥至恆重的基準重鉻酸鉀約60mg，精密稱定，用0.005mol/L硫酸溶液溶解並稀釋至1000ml，在規定的波長處測定並計算其吸收係數，並與規定的吸收係數比較，應符合表中的規定。
波長/nm | 235（最小） | 257（最大） | 313（最小） | 350（最大） |
124.5 | 144.0 | 48.6 . | 106.6 | |
吸收係數（ | 123.0～126.0 | 142.8～146.2 | 47.0～50.3 | 105.5～108.5 |
2.1.3 3．雜散光的檢查
可按下表所列的試劑和濃度，配製成水溶液，置1cm石英吸收池中，在規定的波長處測定透光率，應符合表中的規定。
2.2 對溶劑的要求
含有雜原子的有機溶劑，通常均具有很強的末端吸收。因此，當作溶劑使用時，它們的使用範圍均不能小於截止使用波長。例如甲醇、乙醇的截止使用波長爲205nm。另外，當溶劑不純時，也可能增加干擾吸收。因此，在測定供試品前，應先檢查所用的溶劑在供試品所用的波長附近是否符合要求，即將溶劑置1cm石英吸收池中，以空氣爲空白（即空白光路中不置任何物質）測定其吸光度。溶劑和吸收池的吸光度，在220～240nm範圍內不得超過0.40，在241～250nm範圍內不得超過0.20，在251～300nm範圍內不得超過0.10，在300nm以上時不得超過0.05。
2.3 測定法
測定時，除另有規定外，應以配製供試品溶液的同批溶劑爲空白對照，採用1cm的石英吸收池，在規定的吸收峯波長±2nm以內測試幾個點的吸光度，或由儀器在規定波長附近自動掃描測定，以覈對供試品的吸收峯波長位置是否正確。除另有規定外，吸收峯波長應在該品種項下規定的波長±2nm以內，並以吸光度最大的波長作爲測定波長。一般供試品溶液的吸光度讀數，以在0.3～0.7之間爲宜。儀器的狹縫波帶寬度宜小於供試品吸收帶的半高寬度的十分之一，否則測得的吸光度會偏低；狹縫寬度的選擇，應以減小狹縫寬度時供試品的吸光度不再增大爲準。由於吸收池和溶劑本身可能有空白吸收，因此測定供試品的吸光度後應減去空白讀數，或由儀器自動扣除空白讀數後再計算含量。
當溶液的pH值對測定結果有影響時，應將供試品溶液的pH值和對照品溶液的pH值調成一致。
2.3.1 1．鑑別和檢查
2.3.2 2．含量測定
一般有以下幾種方法。
2.3.2.1 （1）對照品比較法
按各品種項下的方法，分別配製供試品溶液和對照品溶液，對照品溶液中所含被測成分的量應爲供試品溶液中被測成分規定量的100%±10%，所用溶劑也應完全一致，在規定的波長處測定供試品溶液和對照品溶液的吸光度後，按下式計算供試品中被測溶液的濃度：
cx=（AX/AR）CR
式中 cx爲供試品溶液的濃度；
Ax爲供試品溶液的吸光度；
cR爲對照品溶液的濃度；
AR爲對照品溶液的吸光度。
2.3.2.2 （2）吸收係數法
按各品種項下的方法配製供試品溶液，在規定的波長處測定其吸光度，再以該品種在規定條件下的吸收係數計算含量。用本法測定時，吸收係數通常應大於100，並注意儀器的校正和檢定。
2.3.2.3 （3）計算分光光度法
計算分光光度法有多種，使用時應按各品種項下規定的方法進行。當吸光度處在吸收曲線的陡然上升或下降的部位測定時，波長的微小變化可能對測定結果造成顯著影響，故對照品和供試品的測試條件應儘可能一致。計算分光光度法一般不宜用作含量測定。
2.3.2.4 （4）比色法
供試品本身在紫外一可見光區沒有強吸收，或在紫外光區雖有吸收但爲了避免干擾或提高靈敏度，可加入適當的顯色劑，使反應產物的最大吸收移至可見光區，這種測定方法稱爲比色法。
用比色法測定時，由於顯色時影響顯色深淺的因素較多，應取供試品與對照品或標準品同時操作。除另有規定外，比色法所用的空白係指用同體積的溶劑代替對照品或供試品溶液，然後依次加入等量的相應試劑，並用同樣方法處理。在規定的波長處測定對照品和供試品溶液的吸光度後，按上述（1）法計算供試品濃度。
當吸光度和濃度關係不呈良好線性時，應取數份梯度量的對照品溶液，用溶劑補充至同一體積，顯色後測定各份溶液的吸光度，然後以吸光度與相應的濃度繪製標準曲線，再根據供試品的吸光度在標準曲線上查得其相應的濃度，並求出其含量。
3 附錄V C紅外分光光度法
3.1 儀器及其校正
可使用傅里葉變換紅外光譜儀或色散型紅外分光光度計。用聚苯乙烯薄膜（厚度約爲0.04mm）校正儀器，繪製其光譜圖，用3027cm-1，2851cm-1，1601cm-1，1028cm-1，907cm-1處的吸收峯對儀器的波數進行校正。傅里葉變換紅外光譜儀在3000cm-1附近的波數誤差應不大於±5cm-1，在1000cm-1附近的波數誤差應不大於±1cm-1。
用聚苯乙烯薄膜校正時，儀器的分辨率要求在3110～2850cm-1範圍內應能清晰地分辨出7個峯，峯2851cm-1與谷2870cm-1之間的分辨深度不小於18%透光率，峯1583cm-1與谷1589cm-1之間的分辨深度不小於12%透光率。儀器的標稱分辨率，除另有規定外，應不低於2cm-1。
3.2 供試品的製備及測定
3.2.1 1．原料藥鑑別
除另有規定外，應按照國家藥典委員會編訂的《藥品紅外光譜集》各卷收載的各光譜圖所規定的方法製備樣品。具體操作技術參見《藥品紅外光譜集>的說明。採用固體制樣技術時，最常碰到的問題是多晶現象，固體樣品的晶型不同，其紅外光譜往往也會產生差異。當供試品的實測光譜與《藥品紅外光譜集》所收載的標準光譜不一致時，在排除各種可能影響光譜的外在或人爲因素後，應按該藥品光譜圖中備註的方法或各品種項下規定的方法進行預處理，再繪製光譜，比對。如未規定該品種供藥用的晶型或預處理方法，則可使用對照品，並採用適當的溶劑對供試品與對照品在相同的條件下同時進行重結晶，然後依法繪製光譜，比對。如已規定特定的藥用晶型，則應採用相應晶型的對照品依法比對。
當採用固體制樣技術不能滿足鑑別需要時，可改用溶液法繪製光譜後比對。
3.2.2 2．製劑鑑別
品種鑑別項下應明確規定製劑的前處理方法，通常採用溶劑提取法。提取時應選擇適宜的溶劑，以儘可能減少輔料的干擾，併力求避免導致可能的晶型轉變。提取的樣品再經適當乾燥後依法進行紅外光譜鑑別。
3.2.3 3．多組分原料藥鑑別
不能採用全光譜比對，可借鑑【注意事項】“2（3）”的方法，選擇主要成分的若干個特徵譜帶，用於組成相對穩定的多組分原料藥的鑑別。
3.2.4 4．晶型、異構體限度檢查或含量測定
3.3 注意事項
1．各品種項下規定“應與對照的圖譜（光譜集××圖）一致”，係指《藥品紅外光譜集》各卷所載的圖譜。同一化合物的圖譜若在不同捲上均有收載時，則以後卷所載的圖譜爲準。
2．藥物製劑經提取處理並依法繪製光譜，比對時應注意以下四種情況：
（1）輔料無干擾，待測成分的晶型不變化，此時可直接與原料藥的標準光譜進行比對；
（2）輔料無干擾，但待測成分的晶型有變化，此種情況可用對照品經同法處理後的光譜比對；
（3）待測成分的晶型不變化，而輔料存在不同程度的干擾，此時可參照原料藥的標準光譜，在指紋區內選擇3～5個不受輔料干擾的待測成分的特徵譜帶作爲鑑別的依據。鑑別時，實測譜帶的波數誤差應小於規定值的0.5%；
（4）待測成分的晶型有變化，輔料也存在於擾，此種情況一般不宜採用紅外光譜鑑別。
3．由於各種型號的儀器性能不同，供試品製備時研磨程度的差異或吸水程度不同等原因，均會影響光譜的形狀。因此，進行光譜比對時，應考慮各種因素可能造成的影響。
4 附錄V D原子吸收分光光度法
原子吸收分光光度法的測量對象是呈原子狀態的金屬元素和部分非金屬元素，系由待測元素燈發出的特徵譜線通過供試品經原子化產生的原子蒸氣時，被蒸氣中待測元素的基態原子所吸收，通過測定輻射光強度減弱的程度，求出供試品中待測元素的含量。原子吸收分光光度法遵循分光光度法的吸收定律，一般通過比較對照品溶液和供試品溶液的吸光度，求得供試品中待測元素的含量。
4.1 對儀器的一般要求
所用儀器爲原子吸收分光光度計，由光源、原子化器、單色器和檢測系統等組成，另有背景校正系統、自動進樣系統等。
4.1.1 1．光源
4.1.2 2．原子化器
主要有四種類型：火焰原子化器、石墨爐原子化器、氫化物發生原子化器及冷蒸氣發生原子化器。
4.1.2.1 （1）火焰原子化器
由霧化器及燃燒燈頭等主要部件組成。其功能是將供試品溶液霧化成氣溶膠後，再與燃氣混合，進入燃燒燈頭產生的火焰中，以乾燥、蒸發、離解供試品，使待測元素形成基態原子。燃燒火焰由不同種類的氣體混合物產生，常用乙炔-空氣火焰。改變燃氣和助燃氣的種類及比例可以控制火焰的溫度，以獲得較好的火焰穩定性和測定靈敏度。
4.1.2.2 （2）石墨爐原子化器
由電熱石墨爐及電源等部件組成。其功能是將供試品溶液乾燥、灰化，再經高溫原子化使待測元素形成基態原子。一般以石墨作爲發熱體，爐中通入保護氣，以防氧化並能輸送試樣蒸氣。
4.1.2.3 （3）氫化物發生原子化器
由氫化物發生器和原子吸收池組成，可用於砷、鍺、鉛、鎘、硒、錫、銻等元素的測定。其功能是將待測元素在酸性介質中還原成低沸點、易受熱分解的氫化物，再由載氣導入由石英管、加熱器等組成的原子吸收池，在吸收池中氫化物被加熱分解，並形成基態原子。
4.1.2.4 （4）冷蒸氣發生原子化器
由汞蒸氣發生器和原子吸收池組成，專門用於汞的測定。其功能是將供試品溶液中的汞離子還原成遊離汞，再由載氣將汞蒸氣導人石英原子吸收池，進行測定。
4.1.2.5 3．單色器
其功能是從光源發射的電磁輻射中分離出所需要的電磁輻射，儀器光路應能保證有良好的光譜分辨率和在相當窄的光譜帶（0.2nm）下正常工作的能力，波長範圍一般爲190.0～900.0nm。
4.1.2.6 4．檢測系統
由檢測器、信號處理器和指示記錄器組成，應具有較高的靈敏度和較好的穩定性，並能及時跟蹤吸收信號的急速變化。
4.1.2.7 5．背景校正系統
背景干擾是原子吸收測定中的常見現象。背景吸收通常來源於樣品中的共存組分及其在原子化過程中形成的次生分子或原子的熱發射、光吸收和光散射等。這些干擾在儀器設計時應設法予以克服。常用的背景校正法有連續光源（在紫外光區通常用氘燈）、塞曼效應、自吸效應等。
在原子吸收分光光度分析中，必須注意背景以及其他原因引起的對測定的干擾。儀器某些工作條件（如波長、狹縫、原子化條件等）的變化可影響靈敏度、穩定程度和干擾情況。在火焰法原子吸收測定中可採用選擇適宜的測定譜線和狹縫、改變火焰溫度、加入絡合劑或釋放劑、採用標準加入法等方法消除干擾；在石墨爐原子吸收測定中可採用選擇適宜的背景校正系統、加入適宜的基體改進劑等方法消除干擾。具體方法應按各品種項下的規定選用。
4.2 測定法
4.2.1 第一法（標準曲線法）
在儀器推薦的濃度範圍內，製備含待測元素的對照品溶液至少3份，濃度依次遞增，並分別加入各品種項下製備供試品溶液的相應試劑，同時以相應試劑製備空白對照溶液。將儀器按規定啓動後，依次測定空白對照溶液和各濃度對照品溶液的吸光度，記錄讀數。以每一濃度3次吸光度讀數的平均值爲縱座標、相應濃度爲橫座標，繪製標準曲線。按各品種項下的規定製備供試品溶液，使待測元素的估計濃度在標準曲線濃度範圍內，測定吸光度，取3次讀數的平均值，從標準曲線上查得相應的濃度，計算元素的含量。
4.2.2 第二法（標準加入法）
取同體積按各品種項下規定製備的供試品溶液4份，分別置4個同體積的量瓶中，除（1）號量瓶外，其他量瓶分別精密加入不同濃度的待測元素對照品溶液，分別用去離子水稀釋至刻度，製成從零開始遞增的一系列溶液。按上述標準曲線法自“將儀器按規定啓動後”操作，測定吸光度，記錄讀數；將吸光度讀數與相應的待測元素加入量作圖，延長此直線至與含量軸的延長線相交，此交點與原點間的距離即相當於供試品溶液取用量中待測元素的含量（如圖）。再以此計算供試品中待測元素的含量。此法僅適用於第一法標準曲線呈線性並通過原點的情況。
當用於雜質限度檢查時，取供試品，按各品種項下的規定，製備供試品溶液；另取等量的供試品，加入限度量的待測元素溶液，製成對照品溶液。照上述標準曲線法操作，設對照品溶液的讀數爲a，供試品溶液的讀數爲b，b值應小於（a-b）。
圖 標準加入法測定圖示